統数研(ISM)

東芝と統数研、工場の現場技術者の知見を学習する不良原因解析AIを開発

東芝と統数研、工場の現場技術者の知見を学習する不良原因解析AIを開発

製品の品質低下は生産コストに直接影響するため、製造現場においては、製品の品質を監視し品質低下がみられる製品の検出、原因の特定、対策の実行を素早く行う必要がある。 特に半導体の製造現場では、製造装置の経時変化やメンテナンス … Read more

東芝と統数研、欠損値の多いデータからでも不具合の要因を特定する機械学習アルゴリズムを開発

東芝と統数研、欠損値の多いデータからでも不具合の要因を特定する機械学習アルゴリズムを開発

工場・プラントなどの製造現場では、製造物の品質値や加工条件、設備の温度や圧力などの製造プロセスや設備稼働に関するデータが日々大量に収集・蓄積されている。これらのデータを活用して品質のばらつきを説明する回帰モデル(※1)を … Read more