STマイクロエレクトロニクス、複数の物体検出とマルチアレイ・スキャンを実現するToF測距センサを発表
半導体メーカーのSTマイクロエレクトロニクス（以下、ST）は、FlightSense技術を採用した第3世代のToF（Time-of-Flight）測距センサ「VL53L1」を発表した。 VL53L1は、STが新たに特許を … Read more
半導体メーカーのSTマイクロエレクトロニクス（以下、ST）は、FlightSense技術を採用した第3世代のToF（Time-of-Flight）測距センサ「VL53L1」を発表した。 VL53L1は、STが新たに特許を … Read more