TED、検査物の過検出等を低減するAI検査システム「TED AIプラットフォーム」を開発

東京エレクトロン デバイス株式会社（以下、TED）は、AI検査システムを低コスト、短期間で不良品の流出を防ぎ、過検出を低減する「TED AIプラットフォーム」を開発した。

同システムは、AI技術を活用して画像判定を行うディープラーニングの推論機能を実装した産業用PCを、IoT Edgeコンピューティングのアプライアンス（ベースキット）として使用する。学習環境はオンプレミス単体運用のほか、パブリッククラウド（Microsoft Azure）との連携もサポートする。

同システムでは、ディープラーニングを用いた識別技術により検査対象物の特徴から判別が行えるため、個体差がある対象物の判別、位置のバラつきへの対応、官能検査など、さまざまな用途での利用が可能である。複数の検査対象物を個別に推論処理するTED独自の技術により、複数の製品が同時に流れてくるラインでの活用が可能になり、検査効率が向上する。

また、推論処理の高速化を実現するためにインテルのディープラーニングのツールキット「OpenVINO」を用いることで、AI検査システムを低コスト、短期間で実現できるという。

これにより、目視検査からの置き換えや、自動検査装置と併用してダブルチェックするなどの過検知対策としての需要を見込んでいる。

IoTNEWS編集部

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